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JESD22環(huán)境可靠性測試標準

日期：2017-04-17瀏覽：24557次

JESD22環(huán)境可靠性測試標準主要功能包括術(shù)語、定義、產(chǎn)品特征描述與操作、測試方法、生產(chǎn)支持功能、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性、機械外形、固態(tài)存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、以及射頻識別（RFID）標簽等的確定與標準化。

標準編號	JESD22-A100C:2007
標準名稱	濕熱循環(huán)偏壓壽命試驗
試驗?zāi)康?/span>	評估非固態(tài)封裝產(chǎn)品在溫度循環(huán)、高濕、偏壓及結(jié)露環(huán)境下。產(chǎn)品抗腐蝕和耐須晶生長性能。
試驗方法/條件	ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH
嚴酷等級	默認除非特例
時間	1008(-24,+168)h
匹配設(shè)備	ESPEC的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等
設(shè)備要求	可編程交替溫濕度變化

標準編號	JESD22-A102D:2010
標準名稱	高加速蒸煮試驗
試驗?zāi)康?/span>	這個測試方法主要適用于抗?jié)駸岬慕研詼y試，通過高溫高壓飽和濕氣環(huán)境，引發(fā)分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對新封裝材料及結(jié)構(gòu)變化的考量。
試驗方法/條件	121±2℃,100%RH,205KPa
嚴酷等級	Condition A~F
時間	24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h
匹配設(shè)備	EHS-211、EHS-411
設(shè)備要求	高壓蒸煮設(shè)備

標準編號	JESD22-A103D:2010
標準名稱	高溫儲存壽命試驗
試驗?zāi)康?/span>	高溫存儲測試通常用于確定時間和溫度對產(chǎn)品的影響。
試驗方法/條件	125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；
嚴酷等級	Condition A~F
時間	Condition B 1000h or specifying in accordance with JESD47
匹配設(shè)備	ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
設(shè)備要求	試驗過程能穩(wěn)定控溫

標準編號	JESD22-A104D:2009
標準名稱	溫度循環(huán)
試驗?zāi)康?/span>	本實驗用來確定組件、互聯(lián)器件對交替溫度極限變化產(chǎn)生的機械應(yīng)力的耐受性。
試驗方法/條件	-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)
嚴酷等級	Condition A~N
時間	500~1000h根據(jù)具體條件
匹配設(shè)備	TCC、Global-N系列
設(shè)備要求	較高的溫變速率

標準編號	JESD22-A105C:2004
標準名稱	上電和溫度循環(huán)
試驗?zāi)康?/span>	適用于半導體器件，在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓，用于模擬樣件所遭受的zui惡劣環(huán)境
試驗方法/條件	-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min -40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min power on/off 5min
嚴酷等級	Typical condition A~B
時間	10 minutes at each extreme temperature
匹配設(shè)備	J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列
設(shè)備要求	具有可編程控制能達到的溫度變化數(shù)率

標準編號	JESD22-A106B:2004
標準名稱	熱沖擊
試驗?zāi)康?/span>	這個測試是為了確認樣品暴露于溫度變化的抵抗力和造成的影響。
試驗方法/條件	85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃ TT less than 20s
嚴酷等級	Condition A~D
時間	協(xié)議商定
匹配設(shè)備	TSB
設(shè)備要求	液體導熱媒介

標準編號	JESD22-A107B:2004
標準名稱	鹽霧實驗
試驗?zāi)康?/span>	用來確定固態(tài)器件抵抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法/條件	35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時，pH 6.0~7.5.
嚴酷等級	Condition A~D
時間	24h;48h;96h;240h.
匹配設(shè)備	板橋理化的SQ系列
設(shè)備要求	適合完成中性鹽霧條件的試驗箱

標準編號	JESD22-A108D:2010
標準名稱	高溫環(huán)境條件下的工作壽命試驗
試驗?zāi)康?/span>	這個測試用于確定偏差的和溫度對固體器件的影響。短時間一種高溫偏壓的壽命測試,俗稱老化,可能被用來剔除早夭期相關(guān)故障。
試驗方法/條件	125℃/-10℃
嚴酷等級	由測試時間決定
時間	168h；336h；504h或另外商定
匹配設(shè)備	ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
設(shè)備要求	樣品在通電狀態(tài)下溫箱溫差控制在5攝氏度內(nèi)

標準編號	JESD22-A110D
標準名稱	高加速壽命試驗
試驗?zāi)康?/span>	高加速溫濕度應(yīng)力試驗是為評估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。
試驗方法/條件	130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power
嚴酷等級	由所選溫度點決定
時間	96h;264h
匹配設(shè)備	EHS-211、EHS-411
設(shè)備要求	能夠達到的溫濕度條件，并且具備給試樣施加電偏壓的結(jié)構(gòu)

標準編號	JESD22-A118A:2011
標準名稱	不上電的高加速濕氣滲透試驗
試驗?zāi)康?/span>	高加速溫濕度應(yīng)力試驗是為評估非氣密性固態(tài)設(shè)備器件在潮濕的環(huán)境中的可靠性。
試驗方法/條件	130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;
嚴酷等級	由所選溫度點決定
時間	96h;264h
匹配設(shè)備	EHS-211、EHS-411
設(shè)備要求	能夠達到的溫濕度條件

標準編號	JESD22-B103B:2002
標準名稱	振動和掃頻試驗
試驗?zāi)康?/span>	這個測試是評估電氣設(shè)備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動運動的結(jié)果　　　　運輸或野外作業(yè)產(chǎn)生的。
試驗方法/條件	正弦掃頻實驗、隨機振動試驗
嚴酷等級	正弦掃頻實驗分8個等級；隨機振動試驗從試驗等級A~I
時間	正弦1decade/min掃過等級的規(guī)定的頻率范圍，4次每個軸,3個軸；隨機每個軸30分鐘，3個軸
匹配設(shè)備	DC-3200-36
設(shè)備要求	電磁振動臺

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