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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：PRECISE S200替代吉時利KEITHLEY2400源表

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-06-11

產(chǎn)品簡介：

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供國產(chǎn)PRECISE S200替代吉時利KEITHLEY2400源表儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供較有競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

國產(chǎn)PRECISE S200替代吉時利KEITHLEY2400源表應(yīng)用領(lǐng)域

各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：

離散和無源元件

–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

–三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場效應(yīng)晶體管（FET）等等

簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器

集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）

–模擬IC

–射頻集成電路（RFIC）

–專用集成電路（ASIC）

–片上系統(tǒng)（SoC）器件

光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器

圓片級可靠性

- NBTI、TDDB、HCI、電遷移

太陽能電池

電池

暫態(tài)抑制器件

IC、RFIC、MMIC

激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器

電路保護(hù)器件:

TVS、MOV、熔絲

安全氣囊

連接器、開關(guān)、繼電器

碳納米管

半導(dǎo)體納米線

碳納米管 FET

納米傳感器和陣列

單電子晶體管

分子電子

有機(jī)電子

基本運(yùn)放電路

二極管和電路

晶體管電路

測試：

漏流

低壓、電阻

LIV

IDDQ

I-V特征分析

隔離與軌跡電阻

溫度系數(shù)

正向電壓、反向擊穿、漏電流

直流參數(shù)測試

直流電源

HIPOT

介質(zhì)耐受性

雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)

結(jié)型場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)

金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)

太陽能電池和 LED 設(shè)計(jì)

高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)

復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件

碳納米管的電測量標(biāo)準(zhǔn)

測量碳納米管電氣特性

提高納米電子和分子電子器件的低電流測量

在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測量

納米級器件和材料的電氣測量

提高超高電阻和電阻率測量的可重復(fù)性

一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測量方法

納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測量的技術(shù)

納米級材料的電氣測量

降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)

迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測量挑戰(zhàn)

測量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓

用微微微安量程測量電流

柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析

評估氧化層的可靠性

半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器

輸出極低電流和測量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻

低阻測量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。

用于CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測試

高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析

用6線歐姆測量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測量

配置分立電阻器驗(yàn)證測試系統(tǒng)

電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測試

多臺數(shù)字源表的觸發(fā)器同步

高亮度、可見光LED的生產(chǎn)測試

OLED顯示器的直流生產(chǎn)測試

在運(yùn)行中第5次測量用于偏置溫度不穩(wěn)定特性分析

數(shù)字源表的緩沖器以及如何用這兩個緩沖器獲取多達(dá)5000點(diǎn)數(shù)據(jù)

連接器的生產(chǎn)測試方案

射頻功率晶體管的直流電氣特性分析

VCSEL測試、光伏電池的I-V特性、IDDQ測試和待機(jī)電流測試、產(chǎn)生電流 (或電壓) 脈沖、提升多引腳器件的生產(chǎn)量、創(chuàng)建可擴(kuò)縮、多引腳、多功能IC測試系統(tǒng)、激光二極管模塊和VCSEL進(jìn)行高吞吐率直流、二極管生產(chǎn)測試、高亮度、可見光LED、驗(yàn)證變阻器、電池放電/充電周期、配置電阻網(wǎng)絡(luò)、大電流變阻器、熱敏電阻的生產(chǎn)測試

規(guī)格參數(shù)

電壓 源 測量

量程 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts)

300mV 30uV 0.1%±300uV 30uV 0.1%±300uV

3V 300uV 0.1%±500uV 300uV 0.1%±500uV

30V 3mV 0.1%±3mV 3mV 0.1%±3mV

300V 30mV 0.1%±30mV 30mV 0.1%±30mV

電流 源 測量

量程 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) 分辨率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A)

100nA 10pA 0.1%±0.5nA 10pA 0.1%±0.5nA

1uA 100pA 0.1%±3nA 100pA 0.1%±3nA

10uA 1nA 0.1%±5nA 1nA 0.1%±5nA

100uA 10nA 0.1%±50nA 10nA 0.1%±50nA

1mA 100nA 0.1%±300nA 100nA 0.1%±300nA

10mA 1uA 0.1%±5uA 1uA 0.1%±5uA

100mA 10uA 0.1%±20uA 10uA 0.1%±20uA

1A 100uA 0.1%±2mA 100uA 0.1%±2mA

備注：

大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程：105%量程，源和測量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

大采樣速率：1000S/s；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置 。

選型指南

型號 S100 S200 S300

源精度 0.1% 0.1% 0.1%

測量精度 0.1% 0.1% 0.1%

大功率 30W 30W 30W

小電壓量程 300mV 300mV 300mV

大電壓量程 30V 100V 300V

小電流量程 100nA 100nA 100nA

大電流量程 1A 1A 1A

把簡單帶給用戶

源表 = 高精度雙極性可編程電源 + 高精度雙極性可編程電子負(fù)載 + 數(shù)字萬用表，可以簡化復(fù)雜的 IV 測量任務(wù)，用于創(chuàng)建快速、功能強(qiáng)大的電子器件測試和測量系統(tǒng)。

傳統(tǒng)的萬用表-電源組合方式需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步，這種組合的開發(fā)建立和維護(hù)都需要時間，而且購買整體成本高。源表不需要這種多臺儀器相關(guān)復(fù)雜同步連接問題，簡化了測試本身，提升了測試效率。而且源及測量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5數(shù)位，測量結(jié)果比傳統(tǒng)方式更精確。

源表同時精確提供和測量電壓和/或電流，減少了測試時間。如果被測設(shè)備實(shí)際電壓值或者電流值達(dá)到了用戶設(shè)置的限制值，那么電壓或者電流會被精確的限制住，避免了對被測設(shè)備造成損壞。

S系列源表讓復(fù)雜測量變得簡單

在進(jìn)行 IV 測量時，如果使用常規(guī)儀器比如電壓/電流源、開關(guān)和萬用表，那么測量過程將會非常復(fù)雜和耗時。用戶必須精通測量方法和儀器方面的技術(shù)知識，才能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的測量。

S系列源表支持四象限工作，既能擔(dān)當(dāng)精密性電壓/電流源（源模式），又能充當(dāng)電氣負(fù)載被動吸收流入的電流（肼模式），而且支持豐富的掃描模式（線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描），能夠執(zhí)行從直流到低頻交流的各種測量，而無需更改連接或使用其他設(shè)備。

S系列源表讓復(fù)雜測量變得高效

源表的輸出電壓（±300V）、電流范圍遠(yuǎn)大于常規(guī)電源，測試不同功率大小的待測器件（DUT）基本不用更換設(shè)備，其次源表在小電流測試時也具有很高的精度，暗電流測試準(zhǔn)確，而高精度的電流測試萬用表價格也是比較高的，再次多臺源表間可以互聯(lián)觸發(fā)，支持自動序列測試，測試速度快。

S系列源表內(nèi)置有掃描功能，支持豐富的掃描模式，用戶從儀器前面板上便可快速進(jìn)行掃描測量并顯示掃描結(jié)果。綜合的掃描測量功能可以顯著提高效率并縮短測量設(shè)置時間。

S系列源表還內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，如LIV、PIV，加速用戶完成測試。

4 線測量功能可實(shí)現(xiàn)精確的低電阻測量

當(dāng)測量小電阻時，引線自身的電阻會造成嚴(yán)重的測量誤差。為解決這一問題，S系列支持 4 線（也稱為開爾文法）測量功能。在 4 線方案中，兩個連接器輸入電流，另外兩個連接器測量電壓。在這種配置下，迫使測試電流（I）經(jīng)過一套測試引線流過被測電阻（R）；而待測器件（DUT）兩端電壓則是通過稱為檢測引線的第二套引線來測量的。電壓檢測端為高阻輸入，檢測引線中電流一般為p*，同時由于導(dǎo)線電阻很小，引線上的壓降可以忽略不計(jì)，因此采用四線模式可以精確的測量被測器件上的實(shí)際電壓。

創(chuàng)新的 GUI 和 5寸觸摸顯示屏方便用戶使用臺式儀器執(zhí)行測試、調(diào)試和表征

S系列的前面板具有多種功能特性，可以快速簡便地進(jìn)行交互式操作。這些特性包括5寸800*480觸摸顯示屏、USB存儲器I/O 端口、快捷鍵和旋鈕。觸摸屏支持全圖形化操作，使用戶可以快速進(jìn)行測試設(shè)置和檢查測試結(jié)果。USB存儲器端口使數(shù)據(jù)存儲和轉(zhuǎn)移變得十分方便。創(chuàng)新的圖形用戶界面極大改善了使用臺式儀器進(jìn)行測試、調(diào)試和表征的易用性和效率。

國產(chǎn)PRECISE S200替代吉時利KEITHLEY2400源表使用操作說明書指南手冊

一、S系列源表按鍵操作說明

POWER:電源開關(guān)按鍵；

USB接口：版本升級及數(shù)據(jù)導(dǎo)出接口；

BACK:頁面返回鍵；

OUTPUT:信號輸出開/關(guān)，當(dāng)OUTPUT為綠色是表示正在輸出，否則停止輸出；

2/4線輸入輸出口：2線時輸入輸出口為（FORCE HI、FORCE LO）,四線時輸入輸出口為（FORCE HI、SENSEHI、SENSELO、FORCE LO）；注意：四線模式時需確保對應(yīng)的連接線已接好，否則會有安全風(fēng)險；

旋轉(zhuǎn)按鈕：量程、數(shù)值設(shè)定；

二、主界面功能介紹

如圖1.2所示，源表按下電源開關(guān)后顯示為當(dāng)前主界面。源表主界面為可觸屏操作，點(diǎn)擊對應(yīng)功能模塊進(jìn)入操作頁面，各模塊功能簡介如下：

測量：設(shè)置源表模式為源模式（電壓源、電流源）或測量模式（測量電壓、電流）；

設(shè)置：包括網(wǎng)絡(luò)IP和系統(tǒng)升級以及輸出模式等各項(xiàng)設(shè)置；

版本信息：顯示當(dāng)前Qt、模擬板、前面板版本信息；

掃描：測量待測器件的V/I變化曲線；

快速模式：選擇了電壓源或電流源模式后的源量程值和*程值默認(rèn)范圍更適合；

校準(zhǔn)：對機(jī)器精度進(jìn)行校準(zhǔn)（暫未對用戶開放）；

注意：

1.插拔線時務(wù)必確保機(jī)器處于輸出關(guān)閉態(tài).高于36V輸出時,即使設(shè)備處于輸出關(guān)閉態(tài),也請不要用手觸摸輸出接口.

2.設(shè)置四線測試前,請先將四線電纜連接好并插入機(jī)器相對應(yīng)的測試孔,然后在觸摸面板選擇四線,再啟動輸出.

3.四線測試使用完畢后請先將四線測試設(shè)置為二線測試,然后關(guān)閉輸出,再拔出測試線.

三、源表掃描設(shè)置

掃描設(shè)置界面

該界面主要分為3個區(qū)域，具體區(qū)域說明如下：

區(qū)域1：選擇源類型、切換2/4線、前后面板和是否保存結(jié)果；

區(qū)域2：設(shè)置開始值和結(jié)束值，可以選擇掃描點(diǎn)或者步進(jìn)值來設(shè)定掃描點(diǎn)數(shù)和步進(jìn)值大小以及限值大小。

區(qū)域3：開始掃描和查看結(jié)果；

掃描狀態(tài)界面

開始值、結(jié)束值、掃描點(diǎn)數(shù)、限值和延時大小都通過點(diǎn)擊選項(xiàng)框后出現(xiàn)的軟鍵盤設(shè)置對應(yīng)大小，如圖所示：

操作步驟

第1步：源類型選擇、2線/4線、前后面板切換、是否保存結(jié)果分別單擊對應(yīng)選項(xiàng)框和下拉框內(nèi)容，切換后界面如圖所示：

第2步：開始值、結(jié)束值、掃描點(diǎn)數(shù)、限值和延時大小都通過點(diǎn)擊選項(xiàng)框后出現(xiàn)的軟鍵盤設(shè)置對應(yīng)大小，如圖所示：

第3步：掃描點(diǎn)類型以及各值的單位設(shè)置，如圖所示點(diǎn)擊對應(yīng)下拉框：

第4步：等待完成后生成對應(yīng)的曲線圖，這里以掃描二極管曲線為例，如圖所示：